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冷凍電鏡服務的測試過程

更新時間:2024-01-11瀏覽:1180次

冷凍電鏡是用于掃描電鏡的超低溫冷凍制樣及傳輸技術(Cryo-SEM),可實現(xiàn)直接觀察液體、半液體及對電子束敏感的樣品,如生物、高分子材料等。樣品經(jīng)過超低溫冷凍、斷裂、鍍膜制樣(噴金/噴碳)等處理后,通過冷凍傳輸系統(tǒng)放入電鏡內(nèi)的冷臺即可進行觀察。其中,快速冷凍技術可使水在低溫狀態(tài)下呈玻璃態(tài),減少冰晶的產(chǎn)生,從而不影響樣品本身結構,冷凍傳輸系統(tǒng)保證在低溫狀態(tài)下對樣品進行電鏡觀察。

MicroED晶體結構解析平臺,無需單晶培養(yǎng),僅需要少量(mg)粉末樣品,最快可在1天內(nèi)完成高精度的晶體結構測定,至今已成功完成100多個小分子藥物的晶體結構解析。
平臺優(yōu)勢:
無需單晶培養(yǎng)。
<1mg樣品消耗量。
1天完成樣品結構解析。
95%以上解析成功率。
99.9%構型解析。
應用場景:
晶體結構解析。
絕對構型判定。
鹽與共晶區(qū)分。
混合物組分結構測定。
同分異構確定。
測試過程:粉末樣品-冷凍樣品制備-冷凍電鏡測試-衍射數(shù)據(jù)收集-結構解析

 

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